3D DRAM:為什麼記憶體也要往上長

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發表時間:2026 年 10 月 25 日 | 更新日期:2026 年 10 月 25 日 | 編輯:雅寶社區編輯團隊
3D DRAM:為什麼記憶體也要往上長 - 雅寶社區 · 頂客論壇

就算製程做得出更小的單元,縮小本身也會帶來一連串副作用,這些副作用在近年愈來愈明顯:

  • 單元間耦合變嚴重。單元靠得愈近,鄰居的電容與電場就愈容易干擾彼此,導致資料保存時間變短、感測邊界(Sense Margin)變小。
  • Row Hammer 門檻下降。反覆存取某一列字線,會透過電荷耦合讓隔壁列的電容漏電,進而導致位元翻轉。單元愈小、間距愈近,這個問題愈難防,廠商必須靠更複雜的刷新策略與晶片內部管理來補救,而那些補救措施本身會吃掉效能與功耗。
  • 字線與位線的 RC 延遲惡化。導線截面積變小、電阻上升,寄生電容卻沒有等比例下降,訊號在陣列裡傳遞的速度受到限制,連帶影響存取的時序。
  • 刷新功耗占比上升。單元漏電變快,刷新頻率就得提高,對手機與資料中心來說,這是實實在在的電力成本。
  • 微影成本飆升。先進 DRAM 的關鍵層必須使用 EUV 微影,機台昂貴、產能有限,每片晶圓的成本結構跟過去完全不一樣。
  • 這些因素疊在一起,結論很清楚:平面微縮的「每 bit 成本下降」曲線正在失去動能。而當成本曲線走平,產業就必須找新的成長引擎,3D 化就是最直覺的答案。

    二、3D DRAM 的基本思路:把記憶胞往垂直方向疊

    3D DRAM 的核心概念其實很簡單:既然平面上的密度難以提高,那就把記憶胞一層一層往上堆,讓單位面積容納更多 bit。但「聽起來簡單」和「做得出來」之間,隔著一整個世代的製程挑戰。

    1. 3D NAND 的成功與 DRAM 的難處

    提到 3D 記憶體,大家第一個想到的一定是 3D NAND。NAND 快閃記憶體從 2013 年前後開始轉向立體堆疊,如今層數早已突破兩百層,並且還在持續往上加。3D NAND 之所以能成功,關鍵在於它的儲存單元結構相對「好堆」:電荷陷阱式(Charge Trap Flash)單元不需要獨立的大電容,字線可以用一整片導體層橫向鋪開,再用垂直通道一次打穿,整體的堆疊邏輯非常適合用「一層一層沉積、一次蝕刻到底」的方式量產。

    DRAM 就沒這麼幸運。每個記憶胞都必須有自己的一顆電晶體與一個電容,電容還得是高深寬比的立體結構。也就是說,堆疊的每一層都不只是「加一層材料」,而是要重複一次完整的 1T1C 製程。這讓 3D DRAM 的難度遠高於 3D NAND,也是為什麼 3D NAND 商業化十多年後,3D DRAM 還停留在研發與早期驗證階段。

    2. 別搞混:3D DRAM 與 HBM 是兩件事

    這裡要先澄清一個常見的混淆。很多人看到「記憶體往上疊」,就想到 HBM(High Bandwidth Memory)。但 HBM 和 3D DRAM 解決的是不同問題:

  • HBM 是「封裝層面的堆疊」。它把多顆已經做好的 DRAM 晶粒用矽穿孔(TSV)串起來,再透過中介層(Interposer)與 GPU 或加速器連接。裡面的每一顆 DRAM 晶粒本身仍然是平面的傳統 DRAM。HBM 追求的是「頻寬」,用超寬匯流排與極短距離換取驚人的資料吞吐量。
  • 3D DRAM 是「晶片內部的立體化」。它要在同一顆晶粒內部,把記憶胞陣列往垂直方向堆疊,追求的是「密度」——也就是每平方毫米能放多少 bit。它的目標是接替平面微縮,讓每 bit 成本重新往下走。
  • 兩者並不衝突,甚至可以互補:未來的 AI 加速器可能同時使用 3D DRAM 做大容量主記憶體,再用 HBM 做超高頻寬的近端緩衝。把它們混為一談,就會誤判整個產業的技術路線。

    3. 四條主要技術路線

    目前業界與研究機構提出的 3D DRAM 方案,大致可以歸納成四條路線。它們的差異主要在「哪個元件先立起來」以及「堆疊發生在製程的哪個階段」。

    路線

    核心概念

    優勢

    主要挑戰

    垂直通道電晶體(VCT)+ 4F²

    把存取電晶體立起來,閘極環繞通道,單元面積縮到 4F²,再往上堆層

    與現有 DRAM 架構相容性較高,是必經的中繼站

    垂直通道的變異控制、字線與位線的連接、製程複雜度高

    垂直 1T1C 堆疊

    把電晶體與電容上下疊放,形成真正的立體單元,再複製多層

    密度提升最直接

    每層都要完整製程,熱預算與良率壓力最大

    IGZO 等氧化物半導體

    用低溫製程的氧化物半導體做存取電晶體,可疊在金屬層之上,甚至做出無電容的 2T0C 單元

    漏電極低、可低溫後段整合、適合多層堆疊

    驅動電流偏小、可靠性與量產穩定性仍待驗證

    晶圓對晶圓鍵合(WOW 等)

    把多片已完成前段製程的 DRAM 晶圓直接鍵合堆疊

    技術門檻相對低、可較早導入

    本質仍是「多顆平面 DRAM」,長期成本與密度提升有限

    前三條是真正的「單體式 3D DRAM」,第四條則比較像是過渡方案。多數分析認為,產業會先經過 4F² 與 WOW 這兩個階段,再逐步走向單體式堆疊。

    三、真正的難題:不是「疊得上去」,而是「疊得能用」

    把記憶胞疊起來,在實驗室裡已經有人做到;但要能量產、良率可接受、成本合理,才是真正的門檻。以下幾個問題,是 3D DRAM 目前最關鍵的障礙。

    1. 熱預算:不能在屋頂上蓋房子,還把房子燒了

    半導體製程有所謂的「熱預算」(Thermal Budget)。前段製程(FEOL)在矽晶圓上做電晶體時,可以忍受超過一千度的高溫退火;但到了後段製程(BEOL),金屬導線已經鋪好,溫度一旦超過大約 400 到 450 度,銅線就會劣化、擴散,整個電路就毀了。

    3D DRAM 的麻煩在於:如果你要在已經完成的金屬層「上面」再蓋一層記憶胞,那麼這一層的所有製程——沉積、蝕刻、退火、結晶——都必須壓在 400 度以下。偏偏 DRAM 電容需要的高介電常數材料(例如氧化鋯、氧化鉿、氧化鈦、鈦酸鍶等),往往要經過高溫才能結晶成具有高介電常數的相。低溫沉積出來的薄膜,介電常數不夠,電容值就達不到規格。

    這是一個典型的兩難:要嘛降低溫度、犧牲材料品質;要嘛提高溫度、冒著破壞下層電路的風險。解法之一是改用在低溫下就能有不錯特性的材料與製程,例如以原子層沉積(ALD)搭配後處理來改善結晶性;解法之二是改變堆疊順序,先做高溫層、再做低溫層。但不論哪一種,都會牽動整體的製程設計與成本。

    2. 電容材料與高深寬比製程

    前面提過,DRAM 電容的深寬比已經是數十比一。到了 3D 堆疊的架構,這個問題只會更嚴重:孔更深、更窄,而且還要在多層結構中保持一致。

    高深寬比蝕刻本身就是一門極難的工藝:電漿要在極窄的孔裡維持方向性,蝕刻到深處時離子與自由基的傳輸會受到限制,容易造成孔底變細、孔壁粗糙、甚至傾倒。蝕刻完成後,還要均勻地在內壁鍍上多層薄膜——介電層、電極層——每一層都必須厚度均勻、沒有空洞。任何一個缺陷,都可能讓整個單元的電容值偏低或漏電過高。

    此外,單元之間距離拉近之後,相鄰電容的電場耦合會造成干擾,這在 3D 堆疊中尤其難處理,因為垂直方向的鄰居也開始互相影響。電容的形狀、屏蔽結構、介電材料的選擇,都必須重新設計。

    3. 良率、修復與測試

    3D NAND 的經驗告訴我們:層數愈多,良率愈難顧。每一層都有缺陷機率,堆起來之後整體良率會快速下滑。DRAM 的難度又更高,因為它的單元更複雜。

    更棘手的是「測試與修復」。傳統 DRAM 可以透過內建的冗餘單元(Redundancy)與熔絲(Fuse)來替換壞掉的列或行;但在 3D 堆疊的結構裡,要怎麼接觸到深處某一層的某個單元?要怎麼把修復資訊寫進去?這些都需要全新的設計。如果某一層壞掉的比例太高,整顆晶粒可能就得報廢,成本會非常難看。

    這也是為什麼業界在討論 3D DRAM 時,經常把「可測試性」與「可修復性」列為與密度同等重要的指標。沒有好的良率管理,再高的密度也換不到便宜的成本。

    4. 速度、延遲與功耗

    DRAM 的價值不只在容量,還在速度。3D 堆疊之後,訊號要走的路徑變長、垂直互連的寄生電容變大,存取延遲可能會上升。對伺服器與 AI 加速器來說,延遲增加幾奈秒可能還可以接受;但對某些即時性要求高的應用,這就會是問題。

    另外,垂直堆疊也意味著更多層的驅動電路與更多條字線、位線,整體的功耗管理會變得更複雜。廠商必須在密度、速度、功耗三者之間找到新的平衡點,這也是為什麼 3D DRAM 不會一夕取代平面 DRAM,而是會逐步導入、分階段演進。

    四、產業動態與時間表

    3D DRAM 不是單一廠商的專案,而是整個記憶體產業的共同方向。目前幾家主要廠商的路線略有不同,但大方向是一致的。

    1. 三星:4F² 之後走向 3D

    三星是最早公開談論 3D DRAM 概念的廠商之一。它的路線圖大致是:先在現有 1a/1b/1c 世代持續改良,接著導入 4F² 單元架構(搭配垂直通道電晶體),再把多層堆疊納入規劃。三星也在其他領域展示了立體堆疊的能力,例如把 DRAM 與邏輯晶片疊在一起的方案,以及晶圓對晶圓鍵合技術。這些經驗都會成為 3D DRAM 的基礎。

    值得注意的是,三星把 3D DRAM 定位為「後 4F² 時代」的技術,也就是說,4F² 會先成為主流,3D 堆疊才會接手。這個順序很合理:4F² 本身就是立體化的第一步,先把垂直通道電晶體做好,才有辦法進一步把整層記憶胞疊起來。

    2. SK 海力士、美光與設備材料廠

    SK 海力士在 4F² 與新一代 DRAM 架構上投入很深,也公開提過以氧化物半導體(如 IGZO)為基礎的堆疊方案。它的思路是利用 IGZO 的低漏電特性,做出更省電、更容易堆疊的單元,甚至挑戰不需要電容的 2T0C 架構。美光則在 4F² 與先進封裝上持續布局,同時與研究機構合作探索 3D 堆疊的可行性。

    設備與材料廠商同樣是關鍵。高深寬比蝕刻、原子層沉積、低溫製程、晶圓鍵合、檢測與量測,每一個環節都需要新的機台與材料。某種程度上,3D DRAM 能不能量產,取決於這些供應商能不能把對應的製程能力準備好。這也是為什麼每次記憶體廠釋出 3D DRAM 的消息,設備類股都會跟著有反應。

    3. 大概什麼時候看得到

    綜合各家公開資訊與業界推測,時間表大致如下:

  • 2020 年代後半:4F² 架構逐步導入,垂直通道電晶體開始量產,單元面積從 6F² 往 4F² 推進。
  • 2030 年前後:單體式多層堆疊的 3D DRAM 可望進入早期量產或小規模商用,初期可能先用在對成本較不敏感、對容量需求極高的伺服器與 AI 應用。
  • 2030 年代:若良率與成本問題獲得解決,3D DRAM 才會逐步滲透到消費性電子。
  • 當然,這只是目前的推估。半導體技術的時間表經常延後,也可能因為某個突破而提前。重點是:3D DRAM 已經從「學術題目」變成「工程題目」,方向確立了,剩下的是時間與良率的問題。

    五、對一般使用者的意義

    講了這麼多製程與架構,最後回到現實:這件事跟買手機、組電腦的人有什麼關係?

    1. AI 時代的記憶體需求

    大型語言模型與各種 AI 應用的特性是:參數多、資料吞吐量大、對記憶體頻寬與容量極度飢渴。一顆 AI 加速器再強,如果記憶體跟不上,算力就會閒置,這就是所謂的「記憶體牆」(Memory Wall)。HBM 解決了頻寬問題,但容量與成本仍然受限;3D DRAM 則有機會在同樣面積下提供更大容量,進一步壓低每 GB 成本,讓 AI 系統的記憶體配置更有彈性。

    對資料中心來說,這代表未來可以用更少的機櫃空間提供更大的記憶體池;對邊緣裝置來說,則代表手機或筆電有機會在不大幅增加功耗的前提下,塞進更多記憶體。

    2. 手機、筆電、伺服器會怎麼變

    短期內(也就是接下來三到五年),一般人買到的裝置仍然會使用平面 DRAM,頂多是 4F² 架構帶來的密度提升。這段期間,記憶體價格主要還是受供需循環、HBM 產能排擠等因素影響,3D DRAM 還不會是主要變數。

    中期來看,如果 3D DRAM 順利量產,最直接的感受會是「同樣價格買到更大容量」,以及「同樣容量但更省電」。對筆電來說,這可能意味著更長的續航;對手機來說,可能是更多記憶體給相機與 AI 功能使用;對伺服器來說,則是每瓦效能提升。

    3. 現在該怎麼看這件事

    我的建議是:把 3D DRAM 當成一個「三到五年後的趨勢」,而不是「現在就要等的東西」。如果你現在有換機或升級需求,不需要因為聽到 3D DRAM 就延後購買;但如果你是在評估長期投資、關注科技產業,或者是內容創作者想找題材,那麼 3D DRAM 絕對是未來幾年值得持續追蹤的主題。

    觀察重點可以放在三件事:第一,4F² 架構什么时候真正量產、良率如何;第二,各家廠商在低溫製程與氧化物半導體上的進展;第三,設備與材料供應商是否推出對應的量產機台。這三個訊號,會比任何單一發表會都更能說明 3D DRAM 離我們還有多遠。

    結語:往上長,是記憶體的下一條曲線

    DRAM 的歷史,基本上就是一部「不斷縮小」的歷史。但當縮小的邊際效益愈來愈低、成本愈來愈高,往垂直方向發展就成了必然的選擇。3D DRAM 不是一個單純的技術噱頭,而是整個產業為了延續「每 bit 成本下降」這條曲線,所必須走的一步。

    這條路不會平坦。熱預算、電容材料、高深寬比製程、良率與測試,每一個都是硬骨頭。但回顧 3D NAND 的發展,當初也被認為是不可能量產的技術,如今卻已經成為主流。記憶體產業的歷史告訴我們:只要需求夠強、投入夠久,工程問題終究會被解決。

    所以,下次當你看到「3D DRAM」這個詞,不妨把它理解成一句話:記憶體也要往上長了。而這一次,長高的不只是晶片,還有整個產業對未來的想像。

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